Spettrometro XRF NEX QC II

Descrizione

Tecnologia affidabile, prestazioni di ultima generazione

La serie NEX QC II è la seconda generazione di analizzatori a fluorescenza X a dispersione di energia (EDXRF) basata sulla comprovata piattaforma NEX QC. Progettati specificamente per il controllo qualità industriale, i sistemi offrono un’analisi elementare rapida e non distruttiva senza richiedere competenze tecniche pregresse.

Il suo design compatto e robusto è realizzato per ambienti gravosi, mentre il computer integrato e la stampante incorporata eliminano la necessità di PC esterno. L’interfaccia touchscreen guida l’operatore dalla configurazione ai risultati, riducendo al minimo i tempi di formazione e gli errori degli operatori.

Questo nuovo design incorpora un Silicon Drift Detector (SDD) con finestra in grafene, ottiche perfezionate, elettronica aggiornata, una protezione del rilevatore migliorata e un’interfaccia touchscreen riprogettata. Questi miglioramenti garantiscono misurazioni rapide e affidabili con una formazione minima e rendono il sistema facile da usare in ambienti di produzione, linee di produzione e laboratori. Rispetto ai modelli NEX QC originali, gli strumenti NEX QC II offrono prestazioni di misura superiori, una migliore sensibilità agli elementi leggeri e un’interfaccia più intuitiva.

Test di controllo qualità semplici e rapidi

Il NEX QC II offre test multielemento su un’ampia gamma di materiali, rendendolo ideale per le attività quotidiane di controllo qualità, i controlli dei materiali in entrata e in uscita e la verifica in linea.

Progettato per un utilizzo semplice, il NEX QC II presenta un computer integrato e un’interfaccia touchscreen con icone chiare che guida gli utenti attraverso la configurazione e la misurazione. La maggior parte degli operatori può iniziare ad analizzare i campioni dopo solo una breve introduzione. Le sue dimensioni ridotte si adattano facilmente agli spazi ristretti, mentre la stampante incorporata offre un reporting immediato.

Caratteristiche principali:

  • Design compatto, nessun computer esterno richiesto

  • Interfaccia touchscreen intuitiva per una formazione e un utilizzo semplificati

  • Prestazioni affidabili per applicazioni di controllo qualità di routine

  • Stampante integrata per un reporting immediato

  • Valigetta da trasporto opzionale

Prestazioni potenziate, stessa semplicità con NEX QC II+

Il NEX QC II+ è il modello a prestazioni elevate della nuova generazione, in grado di offrire una maggiore sensibilità per gli elementi leggeri e una migliore risoluzione spettrale. Il detector SDD aggiornato consente ai team di controllo qualità di soddisfare specifiche più restrittive e di gestire le applicazioni più impegnative con la massima sicurezza. È ideale per le strutture che necessitano di una maggiore produttività o di prestazioni superiori sugli elementi leggeri, senza aggiungere complessità operativa.

Caratteristiche principali:

  • Detector SDD con finestra in grafene ad alta risoluzione per una sensibilità migliorata

  • Ideale per ambienti di controllo qualità più demanding che richiedono specifiche più restrittive

  • Prestazioni potenziate sugli elementi leggeri

  • Stessa interfaccia touchscreen semplice e intuitiva del modello NEX QC II

Brand

Rigaku ART

Rigaku offre una vastissima gamma di prodotti dedicati all’analisi XRF. La fluorescenza a raggi X a dispersione di energia (EDXRF) è una tecnica analitica utilizzata di routine per la determinazione quantitativa degli elementi chimici   in un'ampia varietà di tipi di campioni.Il cuore della sua versatilità deriva dalla capacità di fornire analisi rapide, non distruttive e multi-elemento – da bassi livelli (parti per milione ppm) a concentrazioni percentuali in peso elevate (% in peso) per gli elementi dal sodio (11Na) all'uranio (92U).